AM0 光譜範圍

350-1800nm

AM0 光源(yuán)等級(jí)

光譜匹配(pèi)度 0.75-1.25 A
輻照度不均勻度 ≤2% A
輻照度不穩定度 ≤1% A+

AM1.5 光譜範圍

300-1200nm

輻照度範圍

200W/㎡~1400W/㎡

測試(shì)面積

240*240mm
可定制其他尺(chǐ)寸

測試(shì)技術

標(biāo)配(pèi)I-V 、V-I掃描(miáo)方式 ，具(jù)備(bèi)Mppt（最大(dà)功率點(diǎn)追蹤） 、I-t（定電(diàn)壓）、動態測量法等多種測試(shì)技術，同時集成逐點(diǎn)掃描(miáo)方式（滿足最短≤0.2s步進的(de)掃描(miáo)方式） ，可通過軟件(jiàn)切換

可測試(shì)電(diàn)池(chí)

常規多晶 、Perc 、Topcon 、BC 、異質結 、CIGS、GaAs 、CdTe 、鈣鈦礦 、鈣鈦礦疊層 、砷化(huà)鎵電(diàn)池(chí)、多結砷化(huà)鎵電(diàn)池(chí)等

可增配(pèi)項(xiàng)

集成溫控平(píng)台 ，實現溫度系數測試(shì)
集成多通道(dào)採集系統（通道(dào)數量可定制）
集成EL測試(shì)系統 ，實現同工位(wèi)IV/EL測試(shì)
可定制BC 、0BB、鈣鈦礦等電(diàn)池(chí)適配(pèi)工裝
集成IR紅(hóng)外熱像儀，實現熱斑測試(shì)
手套箱（米(mǐ)開羅那）