1 、鈣鈦礦/疊層太陽電(diàn)池光電(diàn)特性(xìng)

鈣鈦礦吸光層吸收(shōu)光子(zǐ)後 ，入射光將電(diàn)子(zǐ)從價帶躍遷到導(dǎo)帶 ，形成電(diàn)子(zǐ)-空穴對，然後電(diàn)子(zǐ)-空穴對在吸收(shōu)層內部迅速分開(kāi) ，接著電(diàn)子(zǐ)通(tōng)過電(diàn)子(zǐ)傳輸(shū)層輸(shū)送(sòng)到陽極 ，空穴通(tōng)過空穴傳輸(shū)到陰極 ，隨著電(diàn)子(zǐ)和(hé)空穴不斷在陽極和(hé)陰極的堆積 ，兩極產(chǎn)生(shēng)光生(shēng)電(diàn)動勢。

鈣鈦礦/晶硅疊層太陽電(diàn)池，通(tōng)常(cháng)是頂部寬帶隙太陽電(diàn)池吸收(shōu)高(gāo)能光子(zǐ)，底部窄帶隙太陽電(diàn)池吸收(shōu)低能光子(zǐ) ，從而實(shí)現了更(gèng)寬的波長(zhǎng)吸收(shōu)區域 ，從而突破單結Shockley-Queisser極限 。

鈣鈦礦/晶硅疊層電(diàn)池中還存在由陷阱態和(hé)離子(zǐ)遷移等物理誘因導(dǎo)致的電(diàn)流偏移和(hé)遲滯。

注 ：可(kě)通(tōng)過單點(diǎn)Isc和(hé)Voc測試(shì)與(yǔ)穩態測試(shì)結果(guǒ)進(jìn)行對比 ，相差小於0.5%。

普通(tōng)太陽能電(diàn)池在短脈寬（10-100ms）下進(jìn)行電(diàn)壓(yā)掃描，測試(shì)太陽能電(diàn)池電(diàn)池性(xìng)能用常(cháng)規測試(shì)方法I-V正向掃描與(yǔ)V-I反向掃描接近重合。太陽能高(gāo)效晶硅電(diàn)池（HJT 、HIT、IBC 、鈣鈦礦）常(cháng)規測試(shì)方法在短脈寬下用常(cháng)規測試(shì)方法I-V掃描與(yǔ)V-I掃描差異很大。

2 、鈣鈦礦/疊層太陽電(diàn)池I-V測試(shì)方法

【現有(yǒu)負載技術(shù)理論及常(cháng)規測試(shì)方法】

【IAT測試(shì)技術(shù)】

IAT測試(shì) ：IAT的啓用，系統會利用長(zhǎng)脈衝的優勢 ，基於第一(yī)掃描區間的數據判定出最大功率點(diǎn)Pmpp的大致位置 ，第二掃描區間依據上述數據自動調節(jiē)掃描電(diàn)壓(yā)速率 ，有(yǒu)效降低最大功率點(diǎn)的dV/dt ，有(yǒu)效消除(chú)容性(xìng) ；

【SAT測試(shì)技術(shù)】

SAT測試(shì) ：

①SAT逐次圍繞Vpmm減小電(diàn)壓(yā)區間dV ，dt不變 ，即斜率逐次減小，容性(xìng)產(chǎn)生(shēng)的電(diàn)流也逐次減小。

②確保每一(yī)次掃描中 ，Pmpp被掃描到。

③根據預設(shè)的相對閾值（0.1%或0.05%等）結束掃描測試(shì) ，適應(yīng)不同容性(xìng)的板型(xíng)。

【鈣鈦礦/疊層太陽電(diàn)池穩態老化MPPT測試(shì)】

MPPT測試(shì):擾動光伏電(diàn)池的輸(shū)出電(diàn)壓(yā)（或電(diàn)流） ，然後觀察光伏電(diàn)池輸(shū)出功率的變化 ，根據功率變化的趨勢連續改變擾動電(diàn)壓(yā)（或）的方向 ，使光伏電(diàn)池最終工作於最大功率點(diǎn) 。

【穩態太陽模擬器】

【多通(tōng)道測試(shì)】